HAST高度加速老化試驗箱測試其制品的耐厭性,氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。
HAST高度加速老化試驗箱用途:
高度加速老化試驗箱 壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 又稱(chēng)高壓加速老化試驗箱,適用于國防、航天、汽車(chē)部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業(yè)、制藥、線(xiàn)路板,多層線(xiàn)路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產(chǎn)品之密封性能的檢測,相關(guān)之產(chǎn)品作加速壽命試驗,使用于在產(chǎn)品的設計階段,用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節。
測試其制品的耐厭性,氣密性。測試半導體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會(huì )沿者膠體或膠體與導線(xiàn)架之接口滲入封裝體,常見(jiàn)之故障方式為主動(dòng)金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環(huán)境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產(chǎn)品的電壓、負荷等),加快試驗過(guò)程,縮短產(chǎn)品或系統的壽命試驗時(shí)間、
試樣限制本試驗設備禁止:易燃、易爆、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗或儲存。腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗或儲存。強電磁發(fā)射源試樣的試驗或儲存。
高度加速老化試驗箱性能:
1、測試環(huán)境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、
2、 溫度范圍 105℃ → +132℃、 (控制點(diǎn))
3、 溫度波動(dòng)度 ±0、5℃、
4、 溫度偏差 ±2、0℃、
5、 濕度范圍 75% ~ 100 %R、H 、 (控制點(diǎn))
6、 濕度波動(dòng)度 ±2、5 %R、H、
7、 濕度均勻度 ±5、0%、
8、 壓力范圍 0、5~2㎏/㎝2 (0、05~0、196 MPa) (控制點(diǎn))
9、 升溫時(shí)間 常溫 → + 132℃ 35 min 、
10、 升壓時(shí)間 常壓 → + 2㎏/㎝2 40 min
高度加速老化試驗箱的特點(diǎn):
1、計時(shí)安裝,LED數字型計時(shí)器,當鍋內溫度達到后計時(shí)器確保試驗*,計時(shí)從表格1驅動(dòng)。
2、Jing準的壓力,溫度表隨時(shí)顯示鍋內壓力與溫度,Jing準壓力+0、2~2、0kg/cm2、
6、試驗開(kāi)始前使用真空泵抽真空,將機器原來(lái)的空氣抽出并過(guò)濾與至新鮮空氣一切完整開(kāi)始試機。
4、箱內經(jīng)過(guò)拋光處理經(jīng)久耐用、美觀(guān)、不沾污。
5、運轉時(shí)流水自動(dòng)排出未飽和蒸汽已達到飽和。
6、異常原因及故障指示燈顯示,設置自動(dòng)保護LIMIT安全。
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